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BDD型半導(dǎo)電層電阻測(cè)試成套裝置適用于GB/T11017.1-2002，附錄B、GB/T12706.2-2002和GB/T3048.3-2007《電線電纜電性能試驗(yàn)方法 第三部分 半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)。能對(duì)3.5萬(wàn)伏、11萬(wàn)伏、22萬(wàn)伏等各種高壓交聯(lián)電纜的導(dǎo)體半導(dǎo)電屏蔽層和絕緣半導(dǎo)電屏蔽層的電阻進(jìn)行測(cè)量，從而得出半導(dǎo)電屏蔽層電阻率。增加相應(yīng)附件，能完成GB3048.3《電線電纜電性能試驗(yàn)方法·第3部分·半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率試驗(yàn)》標(biāo)準(zhǔn)中半導(dǎo)電材料的電阻率的測(cè)試。本裝置主要有三個(gè)部分組成：1.試樣制備機(jī)：制備試樣外徑在Φ130㎜以下。2.試樣加熱箱：內(nèi)含2套導(dǎo)體屏蔽體積電阻率測(cè)量夾具，2套絕緣屏蔽體積電阻率測(cè)量夾具。3.半導(dǎo)電層電阻率測(cè)試儀。